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  1. ICWD

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  2. 用汇编语言实现 AD574测试 液晶测试 时钟芯片DS12887测试 键盘测试-Using assembly language to achieve AD574 LCD test test test clock chip DS12887 keyboard test
  3. 所属分类:Grid Computing

    • 发布日期:2017-04-01
    • 文件大小:2.14kb
    • 提供者:霍钱进
  1. ADF4360-7(350-1800)

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  2. 介绍了ADF4360-8芯片的功能、内部结构、引脚排列及典型的应用电路及其评估板。ADF4360-8是集成的整数N合成器和压控振荡器(VCO)。芯片内嵌一个基准输入部分、N计数器和R计数器、相位频率检波器(PFD)和充电泵、多路复用器和锁定检波器、输入移位寄存器、控制锁存器、N计数锁存器、R计数锁存器。它可用于产生系统时钟,作为测试设备,用于无线局域网(LAN),作为闭路电视(CATV)设备。ADF4360-8EB1评估板可以让用户评估ADF4360-8频率合成器PLL的性能。 -Intro
  3. 所属分类:Internet-Socket-Network

    • 发布日期:2017-03-29
    • 文件大小:390.75kb
    • 提供者:庄乾章
  1. ICWD

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  2. 用汇编语言实现AD574测试液晶测试时钟芯片DS12887测试键盘测试-Using assembly language to achieve AD574 LCD test test test clock chip DS12887 keyboard test
  3. 所属分类:WinSock-NDIS

    • 发布日期:2017-04-07
    • 文件大小:2.14kb
    • 提供者:留洋
  1. 全部功能_动态时间重量切换

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  2. 本电子秤主要通过传感器,时钟芯片,数模转换器,lcd显示屏,实现称重(The electronic scale is mainly made of sensor, clock chip, digital converter and LCD display screen.)
  3. 所属分类:网络编程

    • 发布日期:2018-04-23
    • 文件大小:185kb
    • 提供者:XXXXX路
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