文件名称:24c512
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- 上传时间:2012-11-16
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AT24C512读写测试,适用于24MHZ晶振,可更改延时函数调整-AT24C512 read and write tests for 24MHZ crystal, can change the delay time adjustment function
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读写测试.Opt
读写测试.Uv2
读写测试_Opt.Bak
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读写测试
读写测试.hex
读写测试.M51
读写测试.Uv2
读写测试_Opt.Bak
读写测试_Uv2.Bak
STARTUP.A51
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test.LST
test.OBJ
读写测试
读写测试.hex
读写测试.M51
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