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  1. atalanta

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  2. 基于stack-at fault的超大规模数字集成电路自动测试向量生成算法（ATPG）。输入.bench格式，输出测试向量。-Automatic test pattern generation (ATPG) algorithm for VLSI circuits

  3. 所属分类：SCM

    • 发布日期：2017-03-28
    • 文件大小：232.24kb
    • 提供者：Roger

  1. 07~chapter-04-atpg

    0下载：
  2. Slides from "VLSI test" book.

  3. 所属分类：VHDL-FPGA-Verilog

    • 发布日期：2017-12-08
    • 文件大小：522.67kb
    • 提供者：DIG
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