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超大规模数字集成电路测试
- 基于stack-at fault的超大规模数字集成电路测试向量生成算法（ATPG）
huffman_Golomb_COMPRESS
- 从 Mentor Graphics 的自动测试图形生成（ATPG）工具 FastScan的 测试文档中提取出测试电路（CUT）的测试模式，生成便于对应压缩算法的文件 格式。 本文中， 给出了 2 种压缩测试模式的方法， 一种是基于统计的哈夫曼编码， 一种是基于差分运算的Golomb 编码。本次毕业设计中，在熟悉Mentor Graphics ATPG工具 FastScan的基本功能和其主要的测试模式输出文件的格式的基础上， 实现其中测试结构和测试模式数据的分析提取， 并且在
atalanta
- 基于stack-at fault的超大规模数字集成电路自动测试向量生成算法（ATPG）。输入.bench格式，输出测试向量。-Automatic test pattern generation (ATPG) algorithm for VLSI circuits
07~chapter-04-atpg
- Slides from "VLSI test" book.
ISCAS 89 源代码
- ISCAS 89基准时序电路集，可由国际互联网通过FTP方式下载得到。它是North Carolina州立大学的微电子中心在IScAS’85基准电路的基础上，从世界各地(包括企业和研究机构)广泛征集到的。国际上时序电路测试算法的结果比较中，大都是采用IsCAS’89基准电路作为测试对象。ISCAS 89基准电路主要应用于时序电路的可测性分析，它们可作为ATPG性能的评估标准，以验证全扫描和部分扫描的测试生成技术。不仅如此，IScAS’89基准时序电路珏可广泛地应用于模拟、故障模拟、形式验证、逻饕
atalantadll
- 亚特兰大（ATPG算法），用于产生集成电路测试矢量的源代码 -Atlanta (ATPG algorithm),it is the source code that used to generate the the integrated circuit test vector
DADDA
- Characteristics of the three main algorithms: Roth s D-Algorithm (D-ALG) defined the calculus and algorithms for ATPG using D-cubes. Goel s PODEM used path propagation constraints to limit the ATPG search space and introduced backtrace. Fujiwar
VlsiTesting
- atpg, automatic test pattern generation